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应用科学学报 ›› 2011, Vol. 29 ›› Issue (1): 78-82.doi: 10.3969/j.issn.0255-8297.2011.01.014

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采用测试向量合并的多扫描链嫁接测试

刘杰1;2， 梁华国1， 易茂祥1   

  1. 1. 合肥工业大学计算机与信息学院，合肥230009
    2. 阜阳师范学院物理与电子科学学院，安徽阜阳236041
  • 收稿日期:2010-04-07 修回日期:2010-07-05 出版日期:2011-01-26 发布日期:2011-01-25
  • 作者简介:刘杰，副教授，博士生，研究方向：集成电路内建自测试与可测试设计、计算机体系结构等，E-mail: liujie52@ah163.com；梁华国， 教授， 博导，CCF高级会员， 研究方向： 内建式BIST、数字系统设计自动化、ATPG算法与分布式控制等， Email：huagulg@hfut.edu.cn
  • 基金资助:

    教育部博士点基金(No. 200803590006)； 安徽省海外高层次人才基金(No.2008Z014)； 安徽省高校省级自然科学研究基金：(No.KJ2010B428, No.2008jq1176, No.KJ2010A280)资助

Test of Multiple Scan Chain Grafting Using Test Vector Merging

LIU Jie1;2, LIANG Hua-guo1, YI Mao-xiang1   

  1. 1. School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China
    2. School of Physics and Electronic Science, Fuyang Normal College, Fuyang 236041, Anhui Province, China
  • Received:2010-04-07 Revised:2010-07-05 Online:2011-01-26 Published:2011-01-25

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被引次数

3

摘要：

多扫描链测试技术能有效减少测试用时和压缩测试数据，但该技术需要较多的数据输入通道，因而会导致测试成本增加. 为了解决这种矛盾，一种多扫描链嫁接机制被提出. 该方案错位产生基准向量，根据向量间的相容性合并扫描链的驱动端口. 实验结果表明，所提方案在保持多扫描链高速测试的同时既能减少测试数据输入通道，又可获得较高的测试数据压缩率.

关键词: 编码压缩, 测试向量, 扫描链, LFSR, 嫁接

Abstract:

 Although multiple scan chains can effectively decrease test time and reduce the test data, it requires more input channels so that the test cost is increased. To solve the problem, a grafting mechanism with multiple scan chains is proposed, which generates base vectors using a dislocation method in order to merge as many driving ends as possible based on correlation in the test vector. Experimental results show that the proposed
scheme uses fewer channels for the test data input and provides a higher compression ratio while maintaining high-speed testing for multiple scan chains.

Key words: code compression, test vector, scan chain, linear feedback shift register, grafting

中图分类号: