金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究

应用科学学报 ›› 1988, Vol. 6 ›› Issue (3): 271-274.

金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究

王乃粒, 高培德, 刘洪霖, 陈念贻

中国科学院上海冶金研究所

收稿日期:1985-09-29 修回日期:1986-06-26 出版日期:1988-09-30 发布日期:1988-09-30

SIMS INVESTIGATION OF ION CLUSTERS ON MAGNESIUM

WANG NAILI, GAO PEIDE, LIU HONGLIN, CHEN NIANYI

Shanghai Institute of Metallurgy, Academia Sinica

Received:1985-09-29 Revised:1986-06-26 Online:1988-09-30 Published:1988-09-30

摘要/Abstract

摘要： 由于SIMS分析具有很高的表面检测灵敏度,可以检测超轻元素和用作同位素分析,特别是它能检测以电离态形式存在的靶材料的原子簇碎片,因而可比其它许多表面分析方法(诸如AES和XPS)更直接地提供有关这些离子碎片构型的信息.本文通过把对清洁的金属镁表面进行SIMS分析的实验结果,同我们用量子化学从头计算法对镁的某些原子簇离子的稳定性计算结果相比较,从实验和理论两方面探讨了金属镁在熔盐中的化学结构和形成原因,为熔盐-液体金属的相互溶解作用提供了有参考价值的信息.

王乃粒, 高培德, 刘洪霖, 陈念贻. 金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究[J]. 应用科学学报, 1988, 6(3): 271-274.

WANG NAILI, GAO PEIDE, LIU HONGLIN, CHEN NIANYI. SIMS INVESTIGATION OF ION CLUSTERS ON MAGNESIUM[J]. Journal of Applied Sciences, 1988, 6(3): 271-274.