摘要: 用X光电子能谱(XPS)、先致发光(PL)和俄歇电子能量谱(AES)研究P2S5/NH4OH对n型GaAs (100)晶面的钝化作用.测试结果表明,钝化后在砷化镓(100)面上的自然氧化物已被除去,表面形成了一层性质稳定的硫原子层.硫原子与砷、镓原子分别有效地成键,阻止了砷化镓表面氧化物的组成,并消除了表面存在的悬挂键,从而大大优化了GaAs (100)面的特性.PL实验结果支持了上述结论.实验结果表明钝化后GaAs表面复合速度下降,表面态密度降低.
宗祥福, 翁渝民, 刘开锋, 范志能, 李川, 潘忠伟. 砷化镓表面P2S5/NH4OH钝化研究[J]. 应用科学学报, 1994, 12(3): 196-202.
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