摘要: 测量了Te溶液生长半磁半导体(SMSC) Cd1-xMnxTe的导电类型、电阻率、霍尔迁移率和光致发光(PL).测定结果表明,Te溶液生长Cd1-xMnxTe晶体质量和稳定性均优于布里奇曼长晶,根据正四面体配位晶场中Mn2+3d (4T1)能级出现在Cd1-xMnxTe禁带中的观点,分析了在0.85~1.5μm范围内红外透射光谱上存在吸收边的原因。
莫要武, 吴汶海. Te溶液生长半磁半导体Cd1-xMnxTe的光学和电学性质研究[J]. 应用科学学报, 1997, 15(1): 107-111.
MO YAOWU, WU WENHAI. INVESTIGATION OF THE PROPERTIES OF SMSC Cd1-xMnxTe CRYSTAL FILMS GROWNRFOM Te-RICH SOLUTION[J]. Journal of Applied Sciences, 1997, 15(1): 107-111.