摘要: 作者用热壁外延方法在(100)GaAs衬底上生长Zn1-xMnxSe拉半磁半导体薄膜,并用X射线衍射(XRD)、喇曼散射、俄歇电子能谱(AES)等技术对薄膜性能作了研究.实验结果表明已成功地生长出(100)Zn1-xMnxSe单晶薄膜,其中x最大达到0.17.
王杰, 吕宏强, 沈军, 李哲深, 王建宝, 沈孝良. 热壁外延法生长Zn1-xMnxSe半磁半导体薄膜[J]. 应用科学学报, 1992, 10(2): 161-166.
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