摘要： X光电子谱(XPS)已在固体表面成分分析及表面电子能态的研究中获得了广泛的应用。但是由于常用的X光源的非单色性以及电子能谱仪本身的仪器传递特性,常使X光电子谱的谱形加宽,分辨率降低。为此,常采用退卷积的方法对XPS实验数据进行数字处理[1],以提高其分辨率。在退卷积时,首先必须知道谱线的加宽函数。我们采用了两种方法对加宽函数进行了测量,并获得一致的结果。
徐至中, 董树忠. XPS谱线加宽函数的测定[J]. 应用科学学报, 1987, 5(1): 85-88.
XU ZHIZHONG, DONG SHUZHONG. MEASUREMENT OF XPS LINE SHAPE WIDENING FUNCTION[J]. Journal of Applied Sciences, 1987, 5(1): 85-88.
