摘要: 用X射线衍射及电子探针微区成分分析技术,研究了ZnO-Bi2O3-Sb2O3-BaO为基的压敏陶瓷的显微结构.除通常的ZnO、Bi2O3和Zn2.33Sb0.67O4晶相之外,发现了一新的晶界相.分析表明,新的晶界相是固溶有微量Zn的BaSb2O6晶相;它以颗粒状夹杂于弥散的Bi2O3晶界相中;随钡含量增加,BaSb2O6相的数量增多,粒径也增大,相应地Zn2.33Sb0.67O4相的数量则减少.同时还发现,晶界层中组分及结构的这种变化,使压敏陶瓷在长期电负荷下工作的稳定性得到改善.
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