应用科学学报

非线性椭圆型方程组的迭代和有限差分解法

郭本瑜, JOHNHN J. H. MILLER

1992, 10(1): 1-24.

摘要 ( 361 )

PDF (1310KB) ( 119 )

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该文提出计算非线性椭圆型方程组的迭代和有限差分解法,证明了解的存在性与误差估计.数值结果证实了理论分析.

二维极化子有效质量与温度的关系

王宗刚, 顾世洧

1992, 10(1): 25-30.

摘要 ( 456 )

PDF (368KB) ( 115 )

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该文计及晶格的原子结构,讨论了极化晶体中二维极化子的性质.用二次量子化方法处理晶格振动及其与电子的相互作用,导出了二维极化子的自陷能和有效质量,给出了二维极化子有效质量与温度的关系.

求最小二乘参考圆心与圆度值的采样法则

朱训生, 薛秉源, 贝季瑶

1992, 10(1): 31-37.

摘要 ( 387 )

PDF (431KB) ( 98 )

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探讨了应取多少采样点才可不失真地反映连续曲线所具有的圆度值.经数学推演,得到了求最小二乘圆圆心坐标及其统计意义下圆度值各自与曲线的富立叶系数间的关系,从而得到了它们应遵循的采样法则,并给出检验题与实际圆度曲线的验证结果.

最小条件圆度误差的唯一性及其精确解

毛友根

1992, 10(1): 38-42.

摘要 ( 362 )

PDF (300KB) ( 78 )

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该文对符合最小条件圆度误差的数学模型特性进行了探讨,认为模型的解是唯一的,同时也提出了求取模型精确解的思路和方法.

单轴各向异性薄膜参数的变厚度椭偏分析方法

朱荣, 韦钰

1992, 10(1): 43-48.

摘要 ( 325 )

PDF (375KB) ( 82 )

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讨论了光轴垂直于薄膜界面的单轴各向异性薄膜(例如L-B膜)的椭偏参数迭代反演方法.提出用改变薄膜厚度的方法获得多组独立的椭偏方程,以便将薄膜光学常数和厚度分开计算,从而把三参数问题转化为二参数问题的椭偏参数迭代反演方法.给出了反演程序流程及应用于L-B膜的实例.

扫描法固体低温比热测量系统及其分析

周承浩, 张义炳, 萨加特, 阮美萍, 金汴骏

1992, 10(1): 49-52.

摘要 ( 364 )

PDF (262KB) ( 83 )

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介绍了扫描法测量固体低温比热的实验系统及其出现的问题和解决方法.用此实验系统对纯度为99.7%电介铜的比热测量结果表明,它与美国国家标准参考数据相比,在80K-260K范围内偏差小于7%.

平板电极梯度电场分选理论

杨体强, 梁道明, 梁运章

1992, 10(1): 53-56.

摘要 ( 309 )

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从理论上阐述了平板电极梯度电场对有电性差异的混合物具有显著分选作用,并指出利用平板电极梯度电场是比较理想、易行的电力分选技术.

低亮度下电视彩色与色觉

欧阳羲同, 高树香

1992, 10(1): 57-62.

摘要 ( 373 )

PDF (426KB) ( 75 )

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根据实验和已知的明视觉与暗视觉光谱光效函数曲线得出近似而简单的中间视觉光谱光效函数,并作出在一定亮度下的中间视色度图.用它可以较好地说明低照度或低亮度下物体颜色变化和电视彩色失真的情况.

具有对称平面二极磁铁的二级近似束流光学

胡迺雄, 西门纪业

1992, 10(1): 63-70.

摘要 ( 420 )

PDF (428KB) ( 80 )

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推出具有对称平面二极磁铁产生磁场矢位A的表达式.利用变分原理给出二级轨迹和二级像差.证明了存在二级像差情况下刘维定理仍然成立.同时由二级像差引起束椭球的微扰,只要加以适当的修正,变成一个新椭球,仍可按通常的一级传输理论照常进行传输,从而建立起二级近似束流光学理论.

窄栅效应的二维数值分析

杨彪, 季超仁

1992, 10(1): 71-77.

摘要 ( 329 )

PDF (425KB) ( 79 )

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在MOS器件的二维窄栅效应(NGE)的数值分析中;引入了迁移率模型.改进了chung-Sah的常数迁移率近似的结果.发现其电导曲线的斜率随棚压增大由增加变为减少;其阈值电压的窄栅效应变化比常数迁移率时的大,并提出了新的窄栅效应阈值电压模型公式.当从实验上或二维计算中已知一个窄栅器件以及宽栅器件的电导——栅压特性后,就可推知其它栅宽器件的阈值电压.此模型公式用二维计算值及实验值进行了验证.

扫描光荧光表征半导体材料特性

宗祥福, 翁渝民, 刘松, 秦曦

1992, 10(1): 78-84.

摘要 ( 390 )

PDF (2806KB) ( 82 )

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报道了一个自制的采用计算机控制的自动光荧光(PL)扫描系统.该系统可用于形貌半导体晶片或外延层的PL强度分布,尺寸可大到3英寸,样品可以是Si,GaAs,InP等.它可以用来探测材料中的缺陷及浅能级杂质,显示其分布.PL对于杂质识别和缺陷分布的形貌特别灵敏.文中列举和讨论了用本PL扫描系统对Si和GaAs所获得的一些光谱和形貌的信息.实验证明该系统可用作为一个简单、无接触然而却是灵敏的表征手段,可用于评估半导体基片近表面层的均匀性,也适用于器件表征.

高聚物含双核配体键联钌络合物催化剂的制备及其催化加氢活性

赵维君, 王玲, 张书笈, 方延铨

1992, 10(1): 85-94.

摘要 ( 332 )

PDF (502KB) ( 81 )

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以氯甲基化聚苯乙烯-二乙烯基苯树脂为载体,分别制得含氮-磷、氮-氮、氮-氧双核配体的功能高分子,这些功能高分子化学键联三氯化钌获得固载化催化剂,应用于二丙酮醇加氢反应,具有较高的活性和选择性.

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